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新闻中心

半导体SEMI F48高分子材料中痕量金属解决方案

随着半导体制造技术向更小制程节点(如3nm、2nm及以下)的演进,对材料的纯度要求日益严苛。高分子材料(如PFA、POM、PEEK、PTFE等)作为半导体制造工艺中的关键辅助材料,其痕量金属杂质(如Na、K、Fe、Cu、Al、Ni等)的存在可能对器件性能产生显著负面...

05/13

新材料怕“见光死”?先过氙灯老化这一关

造成材料老化的主要因素是阳光和潮湿,太阳光是造成很多材料降解(如物理性能下降、粉化、开裂、起皮、褪色及颜色变化等),对于大部分的材料来说(如涂料、皮革、塑料)太阳光中的短波紫外线是造成其老化的主要因素。 氙灯老化试验可以模拟由阳光...

05/06

2025年劳动节放假通知

04/30

新规解读:稀土物项出口管制下的检测认证新要求

04/29

化妆品致突变性评价—体外哺乳动物细胞染色体畸变试验

在化妆品消费日益增长的今天,产品安全性已成为公众关注的核心议题。作为评估化妆品原料及终产品的潜在遗传毒性的方法,体外哺乳动物细胞染色体畸变试验通过模拟人体代谢环境,精准捕捉化学物质对染色体结构的损伤。随着《化妆品监督管理条例...

04/25

半导体SEMI C90 PFA材料中的铁污染量解决方案

标准SEMI C90:用于测试化学液体输送系统所用的全氟烷氧基乙烯基醚共聚物(PFA)材料的测试方法与规范,在半导体行业中的使用提供了污染物控制的解决方案。该标准规定了在化学液体分配系统中使用的PFA材料的提取要求,以确保这些材料在制造尖端...

04/18

中检院关于发布《<国际化妆品安全评估数据索引>收录的部分原料使用信息》及其问答的通知

4月10日,中检院发布关于《〈国际化妆品安全评估数据索引〉收录的部分原料使用信息》的通知(以下简称《〈国际索引〉原料信息》),对《国际权威化妆品安全评估数据索引》(现更名为《国际化妆品安全评估数据索引》,以下简称《国际索引》)中收录的无...

04/14

更新丨欧盟ECHA撤回1项意向物质六甲基二硅氧烷

2025年2月28日,欧洲化学品管理局(ECHA)将“六甲基二硅氧烷”从SVHC意向物质清单撤回。至此,SVHC物质清单如下:247项SVHC候选清单物质;3项咨询物质;2项意向物质;1项(间苯二酚)待定物质。 撤回物质信息 物质名称 六甲基二硅氧烷 ...

04/09

骨科植入物的洁净度解决方案

骨科植入物洁净度是评估其生物相容性和对灭菌过程微生物负载控制的关键步骤。而清洗通常作为一项关键工序用于去除前道加工过程中残留的污染物,可以通过机械、物理或化学等方式实现,其中产品表面的化学性质、污染物的化学性质、清洗工艺、...

04/03

863中心FIB与TEM设备上新,赋能新材料微纳尺度探索

FIB仪器介绍 仪器名称 聚焦双束电子显微镜FIB 仪器型号 Helios 5 CX 生产厂家 美国Thermo Fisher Scientific (FEI) 离子束系统 离子源种类:液态Ga离子源 分辨率:≤ 4.0nm@30kV 加速...

03/25
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